Development of setup for on-wafer ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Development of setup for on-wafer pulse-to-pulse stability characterization of GaN HEMT transistor in KU-band
Auteur(s) :
Pécheux, Romain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ducournau, Guillaume [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Kabouche, Riad [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
WIde baNd gap materials and Devices - IEMN [WIND - IEMN]
Okada, Etienne [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Mondolot, Christian [Auteur]
Medjdoub, Farid [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
WIde baNd gap materials and Devices - IEMN [WIND - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ducournau, Guillaume [Auteur]
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Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Kabouche, Riad [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
WIde baNd gap materials and Devices - IEMN [WIND - IEMN]
Okada, Etienne [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Mondolot, Christian [Auteur]
Medjdoub, Farid [Auteur]
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Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
WIde baNd gap materials and Devices - IEMN [WIND - IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
16èmes Journées Nano, Micro, et Optoélectronique, JNMO 2018
Ville :
Agay
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2018-06-13
Titre de la revue :
Actes des 16èmes Journées Nano, Micro, et Optoélectronique, JNMO 2018
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Résumé en anglais : [en]
We report on the development of a test bench to extract pulse-to-pulse (P2P) stability On-Wafer in Ku-band. The P2P stability is crucial for RADAR performances. GaN HEMT transistors are a promising candidate for RADAR ...
Lire la suite >We report on the development of a test bench to extract pulse-to-pulse (P2P) stability On-Wafer in Ku-band. The P2P stability is crucial for RADAR performances. GaN HEMT transistors are a promising candidate for RADAR application. However, they typically generate trapping effects, which can strongly affect the P2P stability. Two methods RMS and Standard Deviation based on temporal analysis are employed to extract the stability indicators. The main idea of the P2P test bench is the use of a homodyne demodulation to recover the envelop of the RF. This setup is also combined to an active load pull towards P2P stability test bench dedicated to the new generation of GaN HEMT transistors in large signal condition close to their operational mode.Lire moins >
Lire la suite >We report on the development of a test bench to extract pulse-to-pulse (P2P) stability On-Wafer in Ku-band. The P2P stability is crucial for RADAR performances. GaN HEMT transistors are a promising candidate for RADAR application. However, they typically generate trapping effects, which can strongly affect the P2P stability. Two methods RMS and Standard Deviation based on temporal analysis are employed to extract the stability indicators. The main idea of the P2P test bench is the use of a homodyne demodulation to recover the envelop of the RF. This setup is also combined to an active load pull towards P2P stability test bench dedicated to the new generation of GaN HEMT transistors in large signal condition close to their operational mode.Lire moins >
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Nationale
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
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