Small-Signal Characterization and Modeling ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Small-Signal Characterization and Modeling of 55 nm SiGe BiCMOS HBT up to 325 GHz
Auteur(s) :
Deng, Marina [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Quémerais, Thomas [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Bouvot, Simon [Auteur]
Gloria, Daniel [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Chevalier, Pascal [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
lepilliet, sl [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Quémerais, Thomas [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Bouvot, Simon [Auteur]
Gloria, Daniel [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Chevalier, Pascal [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
lepilliet, sl [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Solid-State Electronics
Éditeur :
Elsevier
Date de publication :
2016-11-22
ISSN :
0038-1101
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Projet ANR :
Source :