Mesure de la permittivité complexe du ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Mesure de la permittivité complexe du polydimethylsiloxane (PDMS) jusqu'à 220 GHz pour la mise en oeuvre d'une électronique souple
Auteur(s) :
Cresson, Pierre-Yves [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Orlic, Yovan [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Legier, Jean-François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Paleczny, Erick [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dubois, Luc [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Coquet, Philippe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Tiercelin, Nicolas [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hage-Ali, Sami [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pernod, Philippe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Preobrazhensky, Vladimir [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
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Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Orlic, Yovan [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Legier, Jean-François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Paleczny, Erick [Auteur]
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Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dubois, Luc [Auteur]
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Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Coquet, Philippe [Auteur]
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Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Tiercelin, Nicolas [Auteur]
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Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hage-Ali, Sami [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pernod, Philippe [Auteur]
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Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Preobrazhensky, Vladimir [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
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Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
13èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM2014
Ville :
Nantes
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2014
Titre de l’ouvrage :
Actes des 13èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM2014
Date de publication :
2014
Résumé :
Des lignes coplanaires sont réalisées sur un film souple de Polydimethylsiloxane (PDMS) de 182 μm d'épaisseur. Après avoir mesuré les paramètres [S] de ces lignes, des algorithmes ajustent la permittivité complexe du ...
Lire la suite >Des lignes coplanaires sont réalisées sur un film souple de Polydimethylsiloxane (PDMS) de 182 μm d'épaisseur. Après avoir mesuré les paramètres [S] de ces lignes, des algorithmes ajustent la permittivité complexe du matériau pour que les valeurs des constantes de propagation extraites des mesures et celles calculées au moyen de codes électromagnétiques coïncident. Ainsi, la permittivité relative vaut respectivement 2.70 et 2.56 à 30 et 210 GHz tandis que la tangente de l'angle de pertes croit très lentement pour atteindre la valeur de 0.048 à 210 GHz.Lire moins >
Lire la suite >Des lignes coplanaires sont réalisées sur un film souple de Polydimethylsiloxane (PDMS) de 182 μm d'épaisseur. Après avoir mesuré les paramètres [S] de ces lignes, des algorithmes ajustent la permittivité complexe du matériau pour que les valeurs des constantes de propagation extraites des mesures et celles calculées au moyen de codes électromagnétiques coïncident. Ainsi, la permittivité relative vaut respectivement 2.70 et 2.56 à 30 et 210 GHz tandis que la tangente de l'angle de pertes croit très lentement pour atteindre la valeur de 0.048 à 210 GHz.Lire moins >
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :