Caractérisations et modélisations des ...
Type de document :
Partie d'ouvrage
Titre :
Caractérisations et modélisations des technologies CMOS et BiCMOS de dernières générations jusque 220 GHz
Auteur(s) :
Waldhoff, Nicolas [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Date de publication :
2009
Langue :
Français
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :