Procédé et dispositif de mesure de la ...
Document type :
Brevet
Title :
Procédé et dispositif de mesure de la température utilisant le rayonnement micro-ondes
Author(s) :
Constant, E. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bocquet, Bertrand [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
van de Velde, J.C. [Auteur]
RINGOT, Roger [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bocquet, Bertrand [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
van de Velde, J.C. [Auteur]
RINGOT, Roger [Auteur]

Country :
France
Publication date :
2002-06-14
Patent number :
FR2817958 (A1)
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Français
Comment :
n° de priorité : FR20000016350 20001212 ; également publié en tant que : FR2817958 (B1) 2003-03-14 ; WO0248665 (A1) 2002-06-20 ; AU1725502 (A) 2002-06-24
Source :