Determination of carrier-induced optical ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Titre :
Determination of carrier-induced optical index and loss variations in GaInAsP/InP heterostructures from static and dynamic Mach-Zehnder interferometer measurements
Auteur(s) :
Zegaoui, Malek [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Harari, Joseph [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vilcot, Jean-Pierre [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Mollot, F. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Decoster, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Li, H. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Chazelas, Jean [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Harari, Joseph [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vilcot, Jean-Pierre [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Mollot, F. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Decoster, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Li, H. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Chazelas, Jean [Auteur]
Titre de la revue :
Electronics Letters
Pagination :
1019-1020
Éditeur :
IET
Date de publication :
2004
ISSN :
0013-5194
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Résumé en anglais : [en]
Mach-Zehnder type interferometer measurements are used to determine the variation of the optical index and propagation loss. Devices are fabricated in InGaAsP/InP material line and experiments are performed at 1.3 and 1.55 ...
Lire la suite >Mach-Zehnder type interferometer measurements are used to determine the variation of the optical index and propagation loss. Devices are fabricated in InGaAsP/InP material line and experiments are performed at 1.3 and 1.55 μm wavelength. Combining static and dynamic measurements, the carrier life-time, the effective index and loss variation against injected current and carrier density were determined.Lire moins >
Lire la suite >Mach-Zehnder type interferometer measurements are used to determine the variation of the optical index and propagation loss. Devices are fabricated in InGaAsP/InP material line and experiments are performed at 1.3 and 1.55 μm wavelength. Combining static and dynamic measurements, the carrier life-time, the effective index and loss variation against injected current and carrier density were determined.Lire moins >
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :