Impact of the intrinsic parameters of the ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Impact of the intrinsic parameters of the dielectric on the leakage current
Auteur(s) :
Larrieu, G. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Tao, M. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Tao, M. [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
2nd International Workshop on Advanced Gate Stack Technology
Ville :
Austin, TX
Pays :
Etats-Unis d'Amérique
Date de début de la manifestation scientifique :
2005
Date de publication :
2005
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :