Noise in SOI MOSFETs and gate-all-around ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Noise in SOI MOSFETs and gate-all-around transistors
Auteur(s) :
Iniguez, B. [Auteur]
Lazaro, A. [Auteur]
Hamid, H.A. [Auteur]
Pailloncy, G. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Lazaro, A. [Auteur]
Hamid, H.A. [Auteur]
Pailloncy, G. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
18th International Conference on Noise and Fluctuations, ICNF 2005
Ville :
Salamanca
Pays :
Espagne
Date de début de la manifestation scientifique :
2005
Date de publication :
2005
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :