Microwave Noise and FET Devices
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Titre :
Microwave Noise and FET Devices
Auteur(s) :
Danneville, François [Auteur]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
IEEE Microwave Magazine
Pagination :
53-60
Éditeur :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Date de publication :
2010-10
ISSN :
1527-3342
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :