Are CNNs reliable enough for critical ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Are CNNs reliable enough for critical applications? An exploratory study
Author(s) :
Neggaz, Mohamed Ayoub [Auteur]
Laboratoire d'Automatique, de Mécanique et d'Informatique industrielles et Humaines - UMR 8201 [LAMIH]
Alouani, Lihsen [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
COMmunications NUMériques - IEMN [COMNUM - IEMN]
INSA Institut National des Sciences Appliquées Hauts-de-France [INSA Hauts-De-France]
Niar, Smail [Auteur]
Laboratoire d'Automatique, de Mécanique et d'Informatique industrielles et Humaines - UMR 8201 [LAMIH]
Kurdahi, Fadi [Auteur]
Centro de Estudios Científicos [CECs]
Laboratoire d'Automatique, de Mécanique et d'Informatique industrielles et Humaines - UMR 8201 [LAMIH]
Alouani, Lihsen [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
COMmunications NUMériques - IEMN [COMNUM - IEMN]
INSA Institut National des Sciences Appliquées Hauts-de-France [INSA Hauts-De-France]
Niar, Smail [Auteur]
Laboratoire d'Automatique, de Mécanique et d'Informatique industrielles et Humaines - UMR 8201 [LAMIH]
Kurdahi, Fadi [Auteur]
Centro de Estudios Científicos [CECs]
Journal title :
IEEE Design & Test
Pages :
76-83
Publisher :
IEEE
Publication date :
2020-04
ISSN :
2168-2356
English keyword(s) :
Engines
Fault tolerant systems
Reliability engineering
Quantization (signal)
Feature extraction
Machine Learning
Convolutional Neural Networks
Reliability
Single Event Upsets
Multiple Event Upsets
Embedded Systems
Fault tolerant systems
Reliability engineering
Quantization (signal)
Feature extraction
Machine Learning
Convolutional Neural Networks
Reliability
Single Event Upsets
Multiple Event Upsets
Embedded Systems
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Informatique [cs]
Informatique [cs]/Intelligence artificielle [cs.AI]
Informatique [cs]/Réseaux et télécommunications [cs.NI]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Traitement du signal et de l'image [eess.SP]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique
Informatique [cs]
Informatique [cs]/Intelligence artificielle [cs.AI]
Informatique [cs]/Réseaux et télécommunications [cs.NI]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Traitement du signal et de l'image [eess.SP]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique
English abstract : [en]
Resource-constrained CNN implementations are subject to various reliability threats. This article provides an exploratory study investigating the impact of faults (soft errors modeled as bit flips) across the parameters ...
Show more >Resource-constrained CNN implementations are subject to various reliability threats. This article provides an exploratory study investigating the impact of faults (soft errors modeled as bit flips) across the parameters of CNNs and the impact on the CNN weights, which can be used to create reliability-aware design guidelines. -Theocharis Theocharides, University of Cyprus -Muhammad Shafique, Technische Universitat WienShow less >
Show more >Resource-constrained CNN implementations are subject to various reliability threats. This article provides an exploratory study investigating the impact of faults (soft errors modeled as bit flips) across the parameters of CNNs and the impact on the CNN weights, which can be used to create reliability-aware design guidelines. -Theocharis Theocharides, University of Cyprus -Muhammad Shafique, Technische Universitat WienShow less >
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :