Titre :

Plate-forme robotisée et automatisée pour la caractérisation microonde par sonde coaxiale évanescente en milieu liquide

Auteur(s) :

Petit, Ronan [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Sebbache, Mohamed [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Haddadi, Kamel [Auteur correspondant]
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN ]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

Nano, Meso, Micro: Science and Innovation for Radio and Photonic, URSI JS22

Ville :

Palaiseau

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2022-03-22

Mot(s)-clé(s) :

Microondes
caractérisation diélectrique de liquides
permittivité complexe
nano-robotique

Mot(s)-clé(s) en anglais :

Microwaves
dielectric characterization
complex permittivity
nanorobotics

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Résumé en anglais : [en]

A measurement platform for microwave characterization of liquids is presented. Coaxial probes using evanescent near-fields are designed and realized to mitigate the lack of spatial resolution of conventional open-ended ...
Lire la suite >A measurement platform for microwave characterization of liquids is presented. Coaxial probes using evanescent near-fields are designed and realized to mitigate the lack of spatial resolution of conventional open-ended coaxial probes. The liquid under test is placed on a XYZ piezo-based positioning stage with nanometer displacement resolution. The proposed solution is a viable candidate to address quantitative dielectricimaging in the frequency range 100 kHz to 53 GHz. The experimental preliminary results considering characterization of liquid droplets using an approach-retract configuration are presented and demonstrate the viability of the approach proposed.Lire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL