Application de la tomographie à rayons X ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès sans actes
Permalink :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/11163
Title :
Application de la tomographie à rayons X à la caractérisation de la microstructure et des mécanismes d'endommagement d'un alliage AlSi7Cu3
Author(s) :
Wang, L [Auteur]
Li, Zhiqiang [Auteur]
Dahdah, N [Auteur]
Limodin, Nathalie [Auteur] refId
Bartali, A El [Auteur]
Witz, Jean-Francois [Auteur] refId
Buffière, J -Y [Auteur]
Balloy, David [Auteur] refId
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207 [UMET]
Tandjaoui, A [Auteur]
Charkaluk, P Quaegebeur Et E [Auteur]
Conference title :
XIIe Colloque Rayons X et Matière
City :
Lille
Country :
France
Start date of the conference :
2017-11
HAL domain(s) :
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Language :
Anglais
Audience :
Nationale
Popular science :
Non
Administrative institution(s) :
Université de Lille
ENSCL
INRA
CNRS
Collections :
Research team(s) :
Métallurgie Physique et Génie des Matériaux
Submission date :
2019-05-17T12:22:34Z
2021-06-28T11:06:59Z
Version history
VersionLinkModification date
220.500.12210/11163*2021-06-28T11:06:11Z
120.500.12210/11163.12019-05-17T12:22:34Z

*Selected version