Title :

Coincidence detector for locating a source

Author(s) :

Bocquet, Michael [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
COMmunications NUMériques - IEMN [COMNUM - IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut de Recherche sur les Composants logiciels et matériels pour l'Information et la Communication Avancée - UAR 3380 [IRCICA]
Loyez, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN ]

Publication date :

2023-06-08

Patent number :

WO2023099355 (A1) 2023-06-08

HAL domain(s) :

Physique [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]

Language :

Anglais

Comment :

N° de priorité : FR20210012849 20211202Également publié en tant que : WO2023099355 (A1) 2023-06-08

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL