Title :

Optimisation de la trempe et amélioration de la fiabilité de commutateurs à matériaux à changement de phase

Author(s) :

Mercier, Corentin [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Microélectronique Silicium - IEMN [MICROELEC SI - IEMN]
Reig, Bruno [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Monfray, Stéphane [Auteur]
STMicroelectronics
Dubois, Emmanuel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Microélectronique Silicium - IEMN [MICROELEC SI - IEMN]
Fleury, Alain [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Gianesello, Frédéric [Auteur]
STMicroelectronics
Puyal, Vincent [Auteur]
Charlet, Ismaël [Auteur]
Département Composants Silicium [DCOS]
Lugo-Alvarez, Jose [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Robillard, Jean-François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Microélectronique Silicium - IEMN [MICROELEC SI - IEMN]

Conference title :

JNM2024 - 23ème Journées Nationales Microondes

City :

Antibes Juan les-Pins

Country :

France

Start date of the conference :

2024-06-04

Book title :

Actes des 23ème Journées Nationales Microondes

Publication date :

2024-06-04

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL