THz scanning near-field microscopy of HgTe ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/IRMMW-THz60956.2024.10697628
Titre :
THz scanning near-field microscopy of HgTe nanocrystals
Auteur(s) :
Santos, Cristiane [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lhuillier, Emmanuel [Auteur]
Institut des Nanosciences de Paris [INSP]
Physico-chimie et dynamique des surfaces [INSP-E6]
Lebouvier, Edouard [Auteur]
Vmicro SAS
Walter, Benjamin [Auteur]
Vmicro SAS
Faucher, Marc [Auteur] refId
Nano and Microsystems - IEMN [NAM6 - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lampin, Jean-Francois [Auteur] refId
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
2024 49th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz)
Ville :
Perth
Pays :
Australie
Date de début de la manifestation scientifique :
2024-09-01
Éditeur :
IEEE
Discipline(s) HAL :
Physique [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]
Résumé en anglais : [en]
Far-field terahertz imaging is limited by diffraction to resolutions in the tens of micrometers range. On the other hand, near-field optical microscopy is a technique that shows permittivity contrasts at the nanoscale. We ...
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Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Projet ANR :
Nanocristaux de HgTe une nouvelle plateforme pour l'optoélectronique THz
Microscope champ proche hyperspectral dans la gamme TéraHertz étendue
Emetteurs TeRAhertz sPIntronic amélioréS par poinTe pour révéler la dynamique ultrarapide à l'échelle nanométrique
Collections :
Source :
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