250MHz to 1.1THz measurement of an InP-HEMT ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.23919/EuMC61614.2024.10732877
Permalink :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/118362
Title :
250MHz to 1.1THz measurement of an InP-HEMT using on-wafer multiline Thru-Reflect-Line calibration
Author(s) :
Younes, R. [Auteur]
Samnouni, M. [Auteur]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Lepilliet, sl [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Wichmann, Nicolas [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Ducournau, Guillaume [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Bollaert, Sylvain [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Conference title :
2024 54th European Microwave Conference (EuMC)
City :
Paris
Country :
France
Start date of the conference :
2024-09-24
Publisher :
IEEE
HAL domain(s) :
Physique [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
ANR Project :
Investissements en NANOfabrication pour les nanotechnologies du FUTUR
Collections :
Source :
Harvested from HAL
Submission date :
2024-11-05T04:29:20Z