Title :

Méthodologie de test non-intrusive, générique et quasi-statique de circuits intégrés en bande millimétrique basée sur l'apprentissage automatique : application à un LNA 25 GHz

Author(s) :

Occello, Olivier [Auteur]
Reliable RF and Mixed-signal Systems [TIMA-RMS]
Margalef-Rovira, Marc [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Barragan, Manuel J. [Auteur]
Reliable RF and Mixed-signal Systems [TIMA-RMS]
Durand, Cedric [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Rhellab, Ayman [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lepilliet, sl [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Ducournau, Guillaume [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Ferrari, Philippe [Auteur]
Reliable RF and Mixed-signal Systems [TIMA-RMS]

Conference title :

XXIIIèmes Journées Nationales Microondes

City :

Antibes Juan-Les-Pins

Country :

France

Start date of the conference :

2024-06-04

Book title :

Proceedings of JNM

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Language :

Français

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL