Bottom gated in-plane selective area grown ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Permalink :
Title :
Bottom gated in-plane selective area grown InSb nanowires on GaAs(111)B
Author(s) :
Barbot, Clément [Auteur]
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
Coinon, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN [CMNF - IEMN]
Berthe, Maxime [Auteur]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deblock, Yves [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lan, Qianqian [Auteur]
Forschungszentrum Jülich = Research Center Juelich [FZ Juelich]
Okada, Etienne [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Thomas, L. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Capiod, Pierre [Auteur]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Ebert, Philipp [Auteur]
Forschungszentrum Jülich = Research Center Juelich [FZ Juelich]
Grandidier, Bruno [Auteur]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Desplanque, Ludovic [Auteur correspondant]
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
Coinon, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN [CMNF - IEMN]
Berthe, Maxime [Auteur]

Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deblock, Yves [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lan, Qianqian [Auteur]
Forschungszentrum Jülich = Research Center Juelich [FZ Juelich]
Okada, Etienne [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Thomas, L. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Capiod, Pierre [Auteur]

Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Ebert, Philipp [Auteur]
Forschungszentrum Jülich = Research Center Juelich [FZ Juelich]
Grandidier, Bruno [Auteur]

Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Desplanque, Ludovic [Auteur correspondant]

EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
Conference title :
EuroMBE 2025 Conference
Conference organizers(s) :
CRHEA
City :
Auron
Country :
France
Start date of the conference :
2025-03-10
HAL domain(s) :
Physique [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
ANR Project :
Source :
Submission date :
2025-04-05T05:58:53Z