GaN-HEMT Fast Switching Current Measurement ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
URL permanente :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/31095
Titre :
GaN-HEMT Fast Switching Current Measurement Method Based on Current Surface Probe
Auteur(s) :
Li, Ke [Auteur]
Videt, Arnaud [Auteur] refId
Idir, Nadir [Auteur] refId
Titre de la revue :
ECCE EPE2014
Date de publication :
2014-08
Langue :
Anglais
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Collections :
Date de dépôt :
2020-09-11T14:27:25Z