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Numerical and experimental analysis of the static characteristics and noise in ungated recessed MESFET structures
Solid-State Electronics, Elsevier, 11-1996, 39; 11, 1629-1636Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
Hot-Carrier Noise under Degenerate Conditions
8th International Conference on Hot Carriers in Semiconductors, Chicago, 1996, Proceedings of the 8th International Conference on Hot Carriers in Semiconductors, Plenum, New York, 1996Communication dans un congrès avec actestexte intégral -
Monte Carlo calculations of hot‐carrier noise under degenerate conditions
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 02-09-1996, 69; 10, 1450-1452Compte-rendu et recension critique d'ouvrage