Titre :

Hot-Carrier Noise under Degenerate Conditions

Auteur(s) :

Tadyszak, P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cappy, Alain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Reggiani, L. [Auteur]
Varani, L. [Auteur]
Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier [CEM2]
Rota, L. [Auteur]
Clarendon Laboratory [Oxford]

Titre de la manifestation scientifique :

8th International Conference on Hot Carriers in Semiconductors

Organisateur(s) de la manifestation scientifique :

K. Hess, J. P. Leburton and U. Ravaioli

Ville :

Chicago

Pays :

Etats-Unis d'Amérique

Date de début de la manifestation scientifique :

1996

Titre de la revue :

Proceedings of the 8th International Conference on Hot Carriers in Semiconductors

Éditeur :

Plenum, New York

Date de publication :

1996

Discipline(s) HAL :

Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]
Physique [physics]/Physique [physics]/Physique Numérique [physics.comp-ph]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL