Titre :

Mid-IR s-SNOM imaging of photo-induced refractive index variation in chalcogenide glass

Auteur(s) :

Thomas, L. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Eliet, Sophie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Carcreff, J. [Auteur]
Institut des Sciences Chimiques de Rennes [ISCR]
Lampin, Jean-Francois [Auteur]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bychkov, Eugène [Auteur]
Laboratoire de Physico-Chimie de l'Atmosphère [LPCA]
Le Coq, David [Auteur]
Institut des Sciences Chimiques de Rennes [ISCR]
Masselin, Pascal [Auteur]
Laboratoire de Physico-Chimie de l'Atmosphère [LPCA]

Titre de la manifestation scientifique :

2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz)

Ville :

Paris

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2019-09-01

Titre de l’ouvrage :

2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz)

Éditeur :

IEEE

Date de publication :

2019-10-21

Mot(s)-clé(s) en anglais :

Chalcogenides
Glass
Laser materials processing
Morphology
Refractive index
Ultrashort pulses
Chalcogenide glass
Nano scale
Optical contrast
Photo-induced
Surface characterization
Terahertz waves

Discipline(s) HAL :

Chimie

Résumé en anglais : [en]

We report the mid-IR s-SNOM surface characterization of a chalcogenide glass photo-inscribed by ultrashort laser pulses. Imaging allows to access to the morphology and the optical properties of the material at nanoscale, ...
Lire la suite >We report the mid-IR s-SNOM surface characterization of a chalcogenide glass photo-inscribed by ultrashort laser pulses. Imaging allows to access to the morphology and the optical properties of the material at nanoscale, unravelling topographical and optical contrasts resulting from the laser inscription process. © 2019 IEEE.Lire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Projet ANR :

Centre expérimental pour l'étude des propriétés des nanodispositifs dans un large spectre du DC au moyen Infra-rouge.

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL