Negative differential resistance and ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Negative differential resistance and non-volatile memory in hybrid redox organic/nanoparticle devices.
Auteur(s) :
Zhang, Tiantian [Auteur]
Guérin, David [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lenfant, Stephane [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vuillaume, Dominique [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Alibart, Fabien [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lmimouni, Kamal [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Yassin, Ali [Auteur]
MOLTECH-Anjou
Oçafrain, Maiténa [Auteur]
MOLTECH-Anjou
Roncali, Jean [Auteur]
MOLTECH-Anjou
Blanchard, Philippe [Auteur]
MOLTECH-Anjou
Guérin, David [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lenfant, Stephane [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vuillaume, Dominique [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Alibart, Fabien [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lmimouni, Kamal [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Yassin, Ali [Auteur]
MOLTECH-Anjou
Oçafrain, Maiténa [Auteur]
MOLTECH-Anjou
Roncali, Jean [Auteur]
MOLTECH-Anjou
Blanchard, Philippe [Auteur]
MOLTECH-Anjou
Titre de la manifestation scientifique :
EMRS Spring meeting Lille
Ville :
Lille
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2015
Date de publication :
2015
Discipline(s) HAL :
Chimie
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Non
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Source :