Lateral band gap modulation by controlled ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Titre :
Lateral band gap modulation by controlled elastic relaxation of strained multiquantum well structures on InP
Auteur(s) :
Leclercq, Jean -Louis [Auteur]
Laboratoire d'électronique, automatique et mesures électriques [LEAME]
Viktorovich, Pierre [Auteur]
Laboratoire d'électronique, automatique et mesures électriques [LEAME]
Letartre, X. [Auteur]
Laboratoire d'électronique, automatique et mesures électriques [LEAME]
Nuban, M. [Auteur]
Laboratoire d'électronique, automatique et mesures électriques [LEAME]
Gendry, Michel [Auteur]
Laboratoire d'électronique, automatique et mesures électriques [LEAME]
Benyatou, T. [Auteur]
Laboratoire de physique de la matière [LPM]
Guillot, G. [Auteur]
Laboratoire de physique de la matière [LPM]
Fierling, G. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Priester, C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Laboratoire d'électronique, automatique et mesures électriques [LEAME]
Viktorovich, Pierre [Auteur]
Laboratoire d'électronique, automatique et mesures électriques [LEAME]
Letartre, X. [Auteur]
Laboratoire d'électronique, automatique et mesures électriques [LEAME]
Nuban, M. [Auteur]
Laboratoire d'électronique, automatique et mesures électriques [LEAME]
Gendry, Michel [Auteur]
Laboratoire d'électronique, automatique et mesures électriques [LEAME]
Benyatou, T. [Auteur]
Laboratoire de physique de la matière [LPM]
Guillot, G. [Auteur]
Laboratoire de physique de la matière [LPM]
Fierling, G. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Priester, C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Applied Physics Letters
Pagination :
1301-1303
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
1995-08-28
ISSN :
0003-6951
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :