Surface space charge effects in planar ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Surface space charge effects in planar submicrometer GaAs and InP devices
Auteur(s) :
Bru-Chevallier, C. [Auteur]
Institut d'électronique fondamentale [IEF]
INL - Spectroscopies et Nanomatériaux [INL - S&N]
de Carné, Patrice [Auteur]
Institut d'électronique fondamentale [IEF]
Dansas, P. [Auteur]
Institut d'électronique fondamentale [IEF]
Pascal, Daniel [Auteur]
Institut d'électronique fondamentale [IEF]
Rousseau, Michel [Auteur]
Institut d'électronique fondamentale [IEF]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Laval, Suzanne [Auteur]
Institut d'électronique fondamentale [IEF]
Institut d'électronique fondamentale [IEF]
INL - Spectroscopies et Nanomatériaux [INL - S&N]
de Carné, Patrice [Auteur]
Institut d'électronique fondamentale [IEF]
Dansas, P. [Auteur]
Institut d'électronique fondamentale [IEF]
Pascal, Daniel [Auteur]
Institut d'électronique fondamentale [IEF]
Rousseau, Michel [Auteur]
Institut d'électronique fondamentale [IEF]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Laval, Suzanne [Auteur]
Institut d'électronique fondamentale [IEF]
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Electron Devices
Pagination :
1611-1616
Éditeur :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Date de publication :
1987
ISSN :
0018-9383
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Sciences de l'ingénieur [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :