Title :

Evolution de caractéristiques statiques de HEMTs AlGaN/GaN soumis à un stress électrique réalisé à différentes températures

Author(s) :

Boudart, B. [Auteur]
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg [LUSAC]
Llibre, Jean-François [Auteur]
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg [LUSAC]
Briand, D. [Auteur]
Tala-Ighil, Boubekeur [Auteur]
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg [LUSAC]
Toutah, H. [Auteur]
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg [LUSAC]
Guhel, Yannick [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bougrioua, Zahia [Auteur]
Germain, Marianne [Auteur]
Moerman, Ingrid [Auteur]

Conference title :

13es Journées Nationales Microondes

City :

Lille

Country :

France

Start date of the conference :

2003

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique

Language :

Français

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL