Mechanical characterization of thin films and interfaces using the colored picosecond ultrasonic technique

Document type :

Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes

Title :

Author(s) :

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Le Louarn, A. [Auteur]
Emery, Patrick [Auteur]

Conference title :

5th Photovoltaic Technical Conference 'Thin Film and Advanced Silicon Solutions', PVTC 2014

City :

Aix-en-Provence

Country :

France

Start date of the conference :

2014

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

Source :

Mechanical characterization of thin films ... BibTeX CSV Excel RIS