Title :

Caracterización del canal radio en un entorno interior en la banda de 60 GHz

Author(s) :

Martínez Inglés, Maríateresa [Auteur]
Departamento de Tecnologia de la informacion y las Communicationes [TIC]
Pascual García, Juan [Auteur]
Departamento de Tecnologia de la informacion y las Communicationes [TIC]
Víctor Rodríguez, José [Auteur]
Departamento de Tecnologia de la informacion y las Communicationes [TIC]
María Molina García-Pardo, José [Auteur]
Departamento de Tecnologia de la informacion y las Communicationes [TIC]
Juan Llácer, Leandro [Auteur]
Departamento de Tecnologia de la informacion y las Communicationes [TIC]
Gaillot, Davy [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lienard, Martine [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
degauque, pierre [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

XXVIII Simposium Nacional de la Unión Científica Internacional de Radio, URSI 2013

City :

Santiago de Compostela

Country :

Espagne

Start date of the conference :

2013

Book title :

XXVIII Simposium Nacional de la Unión Científica Internacional de Radio, URSI 2013

Publication date :

2013

English abstract : [en]

This work presents a set of 10 × 10 MIMO measurements at 60 GHz in an indoor environment. A theoretical and experimental analysis has been done by means of a 3D ray tracing tool and the high resolution parameter estimator ...
Show more >This work presents a set of 10 × 10 MIMO measurements at 60 GHz in an indoor environment. A theoretical and experimental analysis has been done by means of a 3D ray tracing tool and the high resolution parameter estimator RiMAX. The results show the complexity of modeling the radio channel at the millimeter-wave frequency range. Nonetheless, the delay and angular characteristics derived from the measured and theoretical data were found in good agreement.Show less >

Language :

Espagnol

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL