Frictional contact of two spheres for arbitrary 2D loading

Aleshin, Vladislav; van den Abeele, Koen

Type de document :

Communication dans un congrès avec actes

DOI :

10.1121/1.3670734

Titre :

Frictional contact of two spheres for arbitrary 2D loading

Auteur(s) :

Aleshin, Vladislav [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
van den Abeele, Koen [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

20ème Congrès Français de Mécanique, CFM 2011, Session 25 : Contact et tribologie

Ville :

Besançon

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2011

Titre de l’ouvrage :

Actes du 20ème Congrès Français de Mécanique, CFM 2011, Session 25 : Contact et tribologie

Date de publication :

2011

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Résumé en anglais : [en]

Frictional interaction of two elastic spheres is a fundamental problem of contact mechanics. The tangential displacement depends on the normal and tangential force in a complicated and, in general, hysteretic way. The key ...
Lire la suite >Frictional interaction of two elastic spheres is a fundamental problem of contact mechanics. The tangential displacement depends on the normal and tangential force in a complicated and, in general, hysteretic way. The key characteristic of the system is the traction distribution in the contact zone that has a complex piecewise-smooth character. We propose a method of memory diagrams that enables to extract all memory information from traction distributions and store it in a compact manner. Then, instead on considerations on the case-to-case basis of a particular loading history, a general algorithm applicable for any loading history can be formulated. Finally, we used the obtained solution to prove that friction of two spheres is the Preisach system. The Preisach formulation of the problem enables to replace the custom-made algorithm of the memory diagrams method by a standard routine used over more than 70 years in ferromagnetismLire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL

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