Étude des propriétés électroniques de ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Étude des propriétés électroniques de nanofils semiconducteurs d'InAs par microscopie à effet tunnel basse température et quatre pointes
Author(s) :
Durand, Corentin [Auteur]
Berthe, Maxime [Auteur] refId
Nguyen, T.H. [Auteur]
Caroff, P. [Auteur]
Nys, J.P. [Auteur]
Grandidier, Bruno [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
14ème Forum des Microscopies à Sonde Locale
City :
Ecully
Country :
France
Start date of the conference :
2011
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL