Caractérisation de couches minces de ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Caractérisation de couches minces de matériaux polymères en vue de la réalisation de modulateurs électro-optiques
Author(s) :
Philippe Auguste, Kenny Robert [Auteur]
Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique [IETR]
Legier, Jean-François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Halbwax, Mathieu [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Paleczny, Erick [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vilcot, Jean-Pierre [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Li, Hong Wu [Auteur]
Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique [IETR]
Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique [IETR]
Legier, Jean-François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Halbwax, Mathieu [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Paleczny, Erick [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vilcot, Jean-Pierre [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Li, Hong Wu [Auteur]
Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique [IETR]
Conference title :
12èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM 2012
City :
Chambéry
Country :
France
Start date of the conference :
2012
Book title :
Actes des 12èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM 2012
Publication date :
2012
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :