Titre :

State of the art 200 GHz power measurements on SiGe:C HBT using an innovative load pull measurement setup

Auteur(s) :

Pottrain, A. [Auteur]
Lacave, T. [Auteur]
Gloria, D. [Auteur]
Chevalier, P. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

60th IEEE MTT-S International Microwave Symposium, IMS 2012

Ville :

Montréal

Pays :

Canada

Date de début de la manifestation scientifique :

2012

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of 60th IEEE MTT-S International Microwave Symposium, IMS 2012

Date de publication :

2012

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL