Title :

Characterization and analysis of different surface passivation for AlGaN/GaN HEMTs

Author(s) :

Lecourt, F. [Auteur]
Defrance, Nicolas [Auteur]
Rennesson, S. [Auteur]
Hoel, Virginie [Auteur]
Cordier, Y. [Auteur]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

36th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2012

City :

Porquerolles

Country :

France

Start date of the conference :

2012

Book title :

Proceedings of 36th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2012

Publication date :

2012

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL