Titre :

Numerical modelling for connectors shielding efficiency evaluation : impact of electrical grounding points damaging

Auteur(s) :

Razafiarivelo, Jean [Auteur]
Bouri, Youssef [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

24th International Conference on Electrical Contacts, ICEC 2008

Ville :

Saint Malo

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2008-06-09

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of the 24th International Conference on Electrical Contacts, ICEC 2008

Date de publication :

2008

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL