Characterization of amorphous tantalum ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
DOI :
Titre :
Characterization of amorphous tantalum oxide for insulating acoustic mirrors
Auteur(s) :
Capilla, J. [Auteur]
Olivares, J. [Auteur]
Clement, M. [Auteur]
Sangrador, J. [Auteur]
Iborra, E. [Auteur]
Devos, Arnaud [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Olivares, J. [Auteur]
Clement, M. [Auteur]
Sangrador, J. [Auteur]
Iborra, E. [Auteur]
Devos, Arnaud [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium and the European Frequency and Time Forum, IFCS/EFTF 2011
Ville :
San Francisco, CA
Pays :
Etats-Unis d'Amérique
Date de début de la manifestation scientifique :
2011
Titre de l’ouvrage :
Proceedings of 2011 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium and the European Frequency and Time Forum, IFCS/EFTF 2011
Date de publication :
2011
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
- http://oa.upm.es/12630/1/INVE_MEM_2011_106857.pdf
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- INVE_MEM_2011_106857.pdf
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