Title :

Transmission electron microscopy of misfit dislocation and strain relaxation in lattice mismatched III-V heterostructures versus substrate surface treatment

Author(s) :

Wang, Y. [Auteur]
Ruterana, P. [Auteur]
Desplanque, Ludovic [Auteur]
El Kazzi, S. [Auteur]
Wallart, Xavier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

Materials Research Society Spring Meeting, MRS Spring 2011, Symposium D : Compound semiconductors for energy applications and environmental sustainability

City :

San Francisco, CA

Country :

Etats-Unis d'Amérique

Start date of the conference :

2011

Book title :

Materials Research Society Symposium Proceedings, 1324

Publication date :

2011

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL