Millimeter-wave modeling of isolated MOS ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/RFIC.2011.5940662
Titre :
Millimeter-wave modeling of isolated MOS substrate network through gate-bulk measurements
Auteur(s) :
Dormieu, B. [Auteur]
Charbuillet, C. [Auteur]
Danneville, François [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Kauffmann, N. [Auteur]
Scheer, P. [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium, RFIC 2011
Ville :
Baltimore, MD
Pays :
Etats-Unis d'Amérique
Date de début de la manifestation scientifique :
2011
Titre de l’ouvrage :
Proceedings of 2011 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium, RFIC 2011
Date de publication :
2011
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL