Titre :

Analysis of surface charging effects in passivated AlGaN/GaN HEMTs

Auteur(s) :

Gassoumi, M. [Auteur]
Mosbahi, H. [Auteur]
Grimbert, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Maaref, H. [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

European Materials Research Society Spring Meeting, E-MRS Spring 2012, Symposium Q : Novel materials and fabrication methods for new emerging devices

Ville :

Strasbourg

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2012

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL