Titre :

Numerical and experimental assessment of charge control in III-V nano-metal-oxide-semiconductor field-effect transistor

Auteur(s) :

Shi, Minghua [Auteur]
Saint-Martin, J. [Auteur]
Bournel, A. [Auteur]
Querlioz, D. [Auteur]
Dollfus, P. [Auteur]
Mo, J.J. [Auteur]
Wichmann, Nicolas [Auteur]
Desplanque, Ludovic [Auteur]
Wallart, Xavier [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Bollaert, Sylvain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la revue :

Journal of Nanoscience and Nanotechnology

Pagination :

771-775

Éditeur :

American Scientific Publishers

Date de publication :

2013

ISSN :

1533-4880

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL