Title :

Numerical and experimental assessment of charge control in III-V nano-metal-oxide-semiconductor field-effect transistor

Author(s) :

Shi, Minghua [Auteur]
Saint-Martin, J. [Auteur]
Bournel, A. [Auteur]
Querlioz, D. [Auteur]
Dollfus, P. [Auteur]
Mo, J.J. [Auteur]
Wichmann, Nicolas [Auteur]
Desplanque, L. [Auteur]
Wallart, X. [Auteur]
Danneville, Francois [Auteur]
Bollaert, S. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Journal title :

Journal of Nanoscience and Nanotechnology

Pages :

771-775

Publisher :

American Scientific Publishers

Publication date :

2013

ISSN :

1533-4880

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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