Extraction of statistical properties of ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Title :
Extraction of statistical properties of the point source response of a reverberant plate and application to parameter estimation (L)
Author(s) :
Moulin, Emmanuel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Achdjian, Hossep [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Assaad, Jamal [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Abou Leyla, Najib [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hourany, Karl [Auteur]
الجامعة اللبنانية [بيروت] = Lebanese University [Beirut] = Université libanaise [Beyrouth] [LU / ULB]
Zaatar, Youssef [Auteur]
الجامعة اللبنانية [بيروت] = Lebanese University [Beirut] = Université libanaise [Beyrouth] [LU / ULB]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Achdjian, Hossep [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Assaad, Jamal [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Abou Leyla, Najib [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hourany, Karl [Auteur]
الجامعة اللبنانية [بيروت] = Lebanese University [Beirut] = Université libanaise [Beyrouth] [LU / ULB]
Zaatar, Youssef [Auteur]
الجامعة اللبنانية [بيروت] = Lebanese University [Beirut] = Université libanaise [Beyrouth] [LU / ULB]
Journal title :
Journal of the Acoustical Society of America
Pages :
2165-2168
Publisher :
Acoustical Society of America
Publication date :
2012
ISSN :
0001-4966
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
English abstract : [en]
The point source response of a reverberant solid plate is modeled through a nonstationary Poisson process based on the image-source method. The theoretical expectation of the envelope is then derived, taking into account ...
Show more >The point source response of a reverberant solid plate is modeled through a nonstationary Poisson process based on the image-source method. The theoretical expectation of the envelope is then derived, taking into account the dispersive nature of plate waves, and validated by numerical results. Least-square curve-fitting applied to an ensemble average over N realizations can then be used to identify useful parameters such as wave velocity, plate surface, or source-receiver distance. It is shown that even values of N down to 1 (no averaging) allow a satisfying identification. Application to the estimation of the source-receiver distance using a single sensor is finally highlighted to illustrate the promising potentialities of the measurement principle proposedShow less >
Show more >The point source response of a reverberant solid plate is modeled through a nonstationary Poisson process based on the image-source method. The theoretical expectation of the envelope is then derived, taking into account the dispersive nature of plate waves, and validated by numerical results. Least-square curve-fitting applied to an ensemble average over N realizations can then be used to identify useful parameters such as wave velocity, plate surface, or source-receiver distance. It is shown that even values of N down to 1 (no averaging) allow a satisfying identification. Application to the estimation of the source-receiver distance using a single sensor is finally highlighted to illustrate the promising potentialities of the measurement principle proposedShow less >
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :