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Extraction of statistical properties of ...
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Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1121/1.4750495
Title :
Extraction of statistical properties of the point source response of a reverberant plate and application to parameter estimation (L)
Author(s) :
Moulin, Emmanuel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Achdjian, Hossep [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Assaad, Jamal [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Abou Leyla, Najib [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hourany, Karl [Auteur]
Lebanese University [Beirut] [LU]
Zaatar, Youssef [Auteur]
Lebanese University [Beirut] [LU]
Journal title :
Journal of the Acoustical Society of America
Pages :
2165-2168
Publisher :
Acoustical Society of America
Publication date :
2012
ISSN :
0001-4966
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
English abstract : [en]
The point source response of a reverberant solid plate is modeled through a nonstationary Poisson process based on the image-source method. The theoretical expectation of the envelope is then derived, taking into account ...
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The point source response of a reverberant solid plate is modeled through a nonstationary Poisson process based on the image-source method. The theoretical expectation of the envelope is then derived, taking into account the dispersive nature of plate waves, and validated by numerical results. Least-square curve-fitting applied to an ensemble average over N realizations can then be used to identify useful parameters such as wave velocity, plate surface, or source-receiver distance. It is shown that even values of N down to 1 (no averaging) allow a satisfying identification. Application to the estimation of the source-receiver distance using a single sensor is finally highlighted to illustrate the promising potentialities of the measurement principle proposedShow less >
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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