Titre :

Characterization of the state of a droplet on a micro-textured silicon wafer using ultrasound

Auteur(s) :

Saad, N. [Auteur]
الجامعة اللبنانية [بيروت] = Lebanese University [Beirut] = Université libanaise [Beyrouth] [LU / ULB]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dufour, R. [Auteur]
Institut de Recherche Interdisciplinaire [Villeneuve d'Ascq] [IRI]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Campistron, Pierre [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nassar, Georges [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Carlier, Julien [Auteur]
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN [MAMINA - IEMN]
Harnois, M. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Merheb, B. [Auteur]
الجامعة اللبنانية [بيروت] = Lebanese University [Beirut] = Université libanaise [Beyrouth] [LU / ULB]
Boukherroub, Rabah [Auteur]
Institut de Recherche Interdisciplinaire [Villeneuve d'Ascq] [IRI]
Senez, V. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Gao, J. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Thomy, Vincent [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ajaka, M. [Auteur]
الجامعة اللبنانية [بيروت] = Lebanese University [Beirut] = Université libanaise [Beyrouth] [LU / ULB]
Nongaillard, Bertrand [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la revue :

Journal of Applied Physics

Pagination :

104908

Éditeur :

American Institute of Physics

Date de publication :

2012

ISSN :

0021-8979

Discipline(s) HAL :

Physique [physics]/Mécanique [physics]/Mécanique des fluides [physics.class-ph]

Résumé en anglais : [en]

In this work, we propose acoustic characterization as a new method to probe wetting states on a superhydrophobic surface. The analysis of the multiple reflections of a longitudinal acoustic wave from solid-liquid and ...
Lire la suite >In this work, we propose acoustic characterization as a new method to probe wetting states on a superhydrophobic surface. The analysis of the multiple reflections of a longitudinal acoustic wave from solid-liquid and solid-vapor interfaces enables to distinguish between the two well known Cassie-Baxter and Wenzel wetting configurations. The phenomenon is investigated experimentally on silicon micro-pillars superhydrophobic surfaces and numerically using a finite difference time domain method. Numerical calculations of reflection coefficients show a good agreement with experimental measurements, and the method appears as a promising alternative to optical measurement methodsLire moins >

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL