Carrier mobility in strained Ge nanowires
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Title :
Carrier mobility in strained Ge nanowires
Author(s) :
Niquet, Yann-Michel [Auteur]
Delerue, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Delerue, Christophe [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
Journal of Applied Physics
Pages :
084301-1-4
Publisher :
American Institute of Physics
Publication date :
2012
ISSN :
0021-8979
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :
Files
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