Interface states characterization by an ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Interface states characterization by an admittance spectroscopy technique in pentacene MIS capacitors
Author(s) :
Petit, C. [Auteur]
Zander, D. [Auteur]
Lmimouni, Kamal [Auteur] refId
Ternisien, M. [Auteur]
Lenfant, Stephane [Auteur] refId
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
10th European Conference on Molecular Electronics, ECME 2009
City :
Copenhagen
Country :
Danemark
Start date of the conference :
2009
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL