Random telegraph signal and low frequency ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Random telegraph signal and low frequency noise in silicon charge-sensitive electrometers
Author(s) :
Clement, N. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nishiguchi, K. [Auteur]
Fujiwara, A. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nishiguchi, K. [Auteur]
Fujiwara, A. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Conference title :
International Conference on Solid State Devices and Materials, SSDM 2009
City :
Miyagi
Country :
Japon
Start date of the conference :
2009
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :