Characterization of low temperature grown GaAs1-xSbx with x ~ 0.15

Document type :

Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes

Title :

Author(s) :

Wallart, X. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Coinon, Christophe [Auteur]
Plissard, S.R. [Auteur]
Godey, S. [Auteur]
Offranc, O. [Auteur]
Magnin, Vincent [Auteur]

Conference title :

16th International Conference on Molecular Beam Epitaxy, MBE 2010

City :

Berlin

Country :

Allemagne

Start date of the conference :

2010

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

Source :

Characterization of low temperature grown ... BibTeX CSV Excel RIS