Characterization of low temperature grown ...

Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Characterization of low temperature grown GaAs1-xSbx with x ~ 0.15
Auteur(s) :
Wallart, Xavier [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Coinon, Christophe [Auteur]
Plissard, S.R. [Auteur]
Godey, Sylvie [Auteur] refId
Offranc, O. [Auteur]
Magnin, Vincent [Auteur] refId
Lampin, Jean-Francois [Auteur] refId
Titre de la manifestation scientifique :
16th International Conference on Molecular Beam Epitaxy, MBE 2010
Ville :
Berlin
Pays :
Allemagne
Date de début de la manifestation scientifique :
2010
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL