Phase-shift, refraction and focusing based ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Phase-shift, refraction and focusing based on the metamaterial technologies
Auteur(s) :
Lippens, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Comptes Rendus. Physique
Pagination :
400-413
Éditeur :
Académie des sciences (Paris)
Date de publication :
2009
ISSN :
1631-0705
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
- j.crhy.2009.01.003.pdf
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