Elaboration de nanofils de silicium sur ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
Permalink :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/50848
Title :
Elaboration de nanofils de silicium sur pointes de tungstène pour caractérisation en sonde atomique et microscopie champ proche
Author(s) :
Xu, T. [Auteur]
Grandidier, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nys, J.P. [Auteur]
Stiévenard, D. [Auteur]
Cadel, E. [Auteur]
Larde, R. [Auteur]
Pareige, P. [Auteur]
Conference title :
1ères Journées Nanosciences Nord-Ouest, J2NO 2008
City :
Poitiers
Country :
France
Start date of the conference :
2008
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL
Submission date :
2021-07-27T19:37:08Z