Linewidth of resonances in scanning tunneling spectroscopy

Type de document :

Compte-rendu et recension critique d'ouvrage

DOI :

Titre :

Auteur(s) :

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Speller, S. [Auteur]
Vanmaekelbergh, D. [Auteur]

Titre de la revue :

Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015)

Pagination :

205308-1-11

Éditeur :

American Physical Society

Date de publication :

2008

ISSN :

1098-0121

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

Source :

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