Titre :

Systematic offset detection and evaluation using hierarchical graph-based sizing and biasing

Auteur(s) :

Iskander, R. [Auteur]
Louerat, M.M. [Auteur]
Kaiser, Andreas [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

50th IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems, MWSCAS'07

Pays :

Canada

Date de début de la manifestation scientifique :

2007

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of the 50th IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems, MWSCAS'07

Éditeur :

IEEE, Piscataway, NJ, USA

Date de publication :

2007

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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