Titre :

External Optical Probe for Novel on-line Testing Method of Digital Circuits

Auteur(s) :

Pannetier, Benoit [Auteur]
Laboratoire de Conception et d'Intégration des Systèmes [LCIS]
Lemaitre-Auger, Pierre [Auteur]
Laboratoire de Conception et d'Intégration des Systèmes [LCIS]
Tedjini, Smail [Auteur]
Laboratoire de Conception et d'Intégration des Systèmes [LCIS]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

27th General Assembly of the International Union of Radio Science

Ville :

Maastricht

Pays :

Pays-Bas

Date de début de la manifestation scientifique :

2003-08

Date de publication :

2003-08

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique
Sciences de l'ingénieur [physics]/Optique / photonique

Résumé en anglais : [en]

An electro-optical (EO) probe dedicated to the on-line testing of electronic systems is presented here. The probe is design to be implanted permanently on an electronic circuit. It is made of PZT material comprises between ...
Lire la suite >An electro-optical (EO) probe dedicated to the on-line testing of electronic systems is presented here. The probe is design to be implanted permanently on an electronic circuit. It is made of PZT material comprises between two electrodes that also act as optical mirrors. The upper mirror is a multi-layer stack of Si/SiO2 while the second is made of Pt. Reflectivity changes of 7.2 % for a signal variation comprise between 0 and 5 volts were obtained.Lire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL